Objectiu corregit a l'infinit de China Plan 20X/0.4: acromàtic de camp pla, WD 11.1mm per a la fabricació i fàbrica de microscòpia industrial i biològica

Objectiu corregit a l'infinit Plan 20X/0.4 – Acromat de camp pla, WD 11.1mm per a microscòpia industrial i biològica

Aquest objectiu de microscopi Plan 20X/0.4 és una lent acromàtica plana corregida a l'infinit d'alta qualitat dissenyada per a la inspecció rutinària en aplicacions industrials, metal·lúrgiques i biològiques. Amb una obertura numèrica (NA) de 0.4 i una distància de treball (WD) d'11.1 mm, ofereix imatges planes i d'alt contrast a tot el camp de visió, cosa que el converteix en una excel·lent opció per a l'observació en camp clar d'oblies de semiconductors, mostres metàl·liques i mostres biològiques tenyides.

Especificacions clau:

Augment: 20X
Obertura numèrica (NA): 0,4
Distància de treball (WD): 11,1 mm

Envia'ns un correu electrònic

Detall del producte

Etiquetes de producte

La correcció de pla (camp pla) garanteix que la imatge es mantingui nítida i enfocada des del centre fins a la vora, cosa essencial per capturar mostres grans sense reenfocar. La correcció infinita permet una fàcil integració de components auxiliars (divisors de feix, polaritzadors, filtres) en la trajectòria òptica paral·lela, cosa que és particularment útil per a sistemes de visió artificial personalitzats i microscòpia multimodal.

Amb una NA de 0,4, aquest objectiu de 20X proporciona una bona resolució (teòrica ~0,84 µm a 550 nm) i capacitat de recollida de llum, adequada per a la majoria de tasques d'inspecció generals. La distància de treball d'11,1 mm ofereix una separació pràctica entre la lent frontal de l'objectiu i la mostra, segura per a mostres gruixudes, sondes o accessoris d'il·luminació.

Aplicacions típiques:

Inspecció metal·lúrgica– Anàlisi de l'estructura del gra, avaluació del gruix del recobriment.

Semiconductor– Revisió de defectes de l'oblea, mesurament de dimensions crítiques.

Microscòpia biològica– Observació de seccions de teixit, monitorització de cultius cel·lulars.

Control de qualitat– Inspecció superficial de peces de precisió i components electrònics.

Educatiu i de laboratori– Microscòpia rutinària en laboratoris docents.

Aquest objectiu és mecànicament compatible amb la majoria de muntures de microscopi amb correcció infinita (per exemple, distància parfocal de 95 mm si s'especifica; si us plau, confirmeu la rosca de muntatge). Ofereix un excel·lent equilibri entre augment, resolució i distància de treball a un preu econòmic.